ダイオードの端子間容量が電流遮断時のTRVに与える影響

カテゴリ: 部門大会

論文No: 327

グループ名: 【B】令和元年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2019/08/23

タイトル(英語): Relationship Between TRV and Diode Terminal Capacitance

著者名: 松田 敬介(東京電機大学),腰塚 正(東京電機大学)

著者名(英語): Matsuda Keisuke|kosizuka Tadashi

キーワード: ダイオード|過渡回復電圧|近距離線路故障|端子間容量,Diode,Transient recovery voltage,Short line fault,Diode terminal capacitance

要約(日本語): 日本短絡試験協会は遮断器の過渡回復電圧(TRV)測定系の不確かさについて検討を行っている。このTRVは理想遮断器で電流遮断した際の回路固有のもので検討すべきであるが、実際には理想遮断器は実在しないため、ダイオードを用いて低電圧で計測される。ダイオードで電流遮断した際に生じる問題に対して、順方向電圧降下の低いダイオードを用いた手法が提案されている。しかし、この手法においてはダイオードの他の電気的特性がTRVにどのような影響を与えるかについて検討されていない。そこで、本論文では特に近距離線路故障遮断条件においてダイオードの端子間容量がTRVにどのような影響を与えるか実測とLTspiceによる解析を行ったので報告する。

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