PID現象の発生したPVモジュールのEL輝度とFFの関係

カテゴリ: 部門大会

論文No: 174

グループ名: 【B】令和元年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2019/08/23

タイトル(英語): Correlation between brightness of EL image and FF of PV module with Potential-Induced Degradation

著者名: 澤田 賢(名城大学),上田 紘巨(名城大学),山中 三四郎(名城大学),青山 泰宏(トーエネック),西戸 雄輝(トーエネック),小林 浩(トーエネック)

著者名(英語): Satoshi Sawada|Koki Ueda|Sanshiro Yamanaka|Yasuhiro Aoyama|Yuki Nishido|Hiroshi Kobayashi

キーワード: PID現象|EL|I-V特性I-V特性,Potential-Induced Degradation,Electro-luminescence,I-V characteristic

要約(日本語): 太陽電池の不具合の一例として「PID現象」が確認されている。しかし自然状態でPID現象の発生した太陽電池については知見が少なく，PID現象と出力低下との関係について詳細は明らかになっていない。そこで我々の研究室ではPID現象による劣化の度合いをEL画像の発光量から調査し，電気特性との関係をセル毎に検証することで，将来的には撮影したEL画像1枚からPID現象の発生した太陽電池の出力低下を推定する方法を検討している。本検討ではRshの算出できないセルについて，FFを用いて数値化し，輝度とFFの関係について比較を行なったところ線形性を確認することができ，Rshの算出できないセルについてもRshと輝度に相関関係があることが確認できた。

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