熱画像を利用したバイパスダイオード開放故障判定方法に関する研究－ストリングの開放故障検出－

カテゴリ: 部門大会

論文No: 175

グループ名: 【B】令和元年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2019/08/23

タイトル(英語): Study on Method of Judging Open Failure of Bypass Diode Using Thermal Image - String Open Fault Detection -

著者名: 上田 紘巨(名城大学),澤田 賢(名城大学),山中 三四郎(名城大学),青山 泰宏(トーエネック),西戸 雄輝(トーエネック),小林 浩(トーエネック)

著者名(英語): Koki Ueda|Satoshi Sawada|Sanshiro Yamanaka|Yasuhiro Aoyama|Yuki Nishido|Hiroshi Kobayashi

キーワード: 太陽電池|熱画像|セルの発熱|バイパスダイオード|開放故障遮光枚数,Photovoltaic,Thermal image,Heat generation of cell,Bypass diode,Open failureNumber of shaded

要約(日本語): バイパスダイオード（BPD）が開放故障すると，ホットスポットが発生し，セルを損傷させる恐れがある。そのため，開放故障の箇所を短時間で特定する方法が必要である。そこで，筆者らは熱画像を利用し短時間で故障箇所を特定する方法の確立を目指している。これまでの研究として，モジュール12直列でBPDが1箇所，開放故障している場合の検討を行ったところ，開放故障の箇所が判定可能であった。本報告では，複数箇所のBPDが開放故障している場合の検討を行った。その結果，開放故障箇所が3箇所までは判定可能であった。しかし，4箇所，開放故障すると判定不可能となった。

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