高電界パルスを用いた酵母内分子の非破壊抽出

カテゴリ: 部門大会

論文No: 2-B-p1-1

グループ名: 【A】令和3年電気学会基礎・材料・共通部門大会

発行日: 2021/09/01

著者名: 村上 鷹児（熊本大学）, 松永 和也（熊本大学）, 勝木 淳（熊本大学）

キーワード: Pulsed Electric Field|Non-destructive extraction

要約(日本語): 本研究は、高電界パルス(PEF)を用いて酵母内の機能性分子を非破壊で抽出することを目的とする。著者らはこれまでPEF処理と自己消化を組合せて、従来法では得られない大きい分子の抽出に成功している。本論文ではさらに、120 kV/cmの超高電界パルスのみを用い、目的分子を破壊する可能性のある自己消化を抑えた場合の抽出の特徴について述べる。

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