高速・広帯域波長掃引レーザを用いたファイバブラッググレーティングによるひずみ測定

カテゴリ: 部門大会

論文No: 2-C-p2-1

グループ名: 【A】令和3年電気学会基礎・材料・共通部門大会

発行日: 2021/09/01

著者名: 山口 達也（日本大学）, 遠藤 亘（日本大学）, 篠田 之考（日本大学）

キーワード: 光ファイバセンサ|ファイバレーザ|センサシステム|ファイバブラッググレーティング

要約(日本語): 光ファイバセンサであるファイバブラッググレーティング(FBG)は高い耐環境性と防爆性を持ち,長期的かつ安定的に運用できるセンサとして注目されている。筆者らの目的は,波長1.55μm帯の波長掃引レーザを用い,FBGセンサの高密度・高速計測システムを開発することである。本文はセンサのさらなる高密度化を図るため,掃引帯域120nmの広帯域波長掃引レーザを開発し,FBGによるひずみ測定を行った報告である。

PDFファイルサイズ: 400 Kバイト