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陽子線照射によるパワーエレクトロニクス絶縁材料への影響検討
陽子線照射によるパワーエレクトロニクス絶縁材料への影響検討
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カテゴリ: 部門大会
論文No: 2-D-a1-4
グループ名: 【A】令和3年電気学会基礎・材料・共通部門大会
発行日: 2021/09/01
著者名: 宮路 仁崇(三菱電機), 石川 裕卓(三菱電機), 塩田 裕基(三菱電機), 田尻 邦彦(三菱電機), 榎 海星(東京都市大学), 遠藤 和樹(東京都市大学), 三宅 弘晃(東京都市大学), 田中 康寛(東京都市大学)
キーワード: 放射線|荷電粒子線|パワーエレクトロニクス|絶縁材料
要約(日本語): 近年,パワーエレクトロニクス機器等の電力機器の高性能化,高信頼化に向けた研究が盛んに行われている。その中で、パワエレ機器の適用範囲が高地や高放射線・宇宙線などの厳しい環境への適用が進んでいるが、高地や低気圧環境における放電発生や放射線による絶縁材料の劣化が懸念される。これに対し,電力機器の信頼性向上のためには,高エネルギー荷電粒子が照射された絶縁材料中に生じる帯電挙動や絶縁特性評価が重要となる。これに対し,荷電粒子を照射した絶縁材料特性に関する実験報告は多いが,その理論考察に関する報告は少ないのが現状である。本稿では,荷電粒子照射による絶縁材料への影響に係る理論検討について報告する。
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