電子機器に対するESD試験とその課題

カテゴリ: 部門大会

論文No: 3-A-p1-5

グループ名: 【A】令和3年電気学会基礎・材料・共通部門大会

発行日: 2021/09/01

著者名: 石田 武志（ノイズ研究所）

キーワード: ESD|接触放電|気中放電|規格|放電電流|電磁界

要約(日本語): 電子機器のESD耐性は,国際規格で規定された試験を実施して製品の信頼性を担保している。ESDは高速でもっとも厳しい耐性試験と認識され,同時にばらつきが大きな現象としても知られている。ESD現象のばらつきが,高周波現象の厳しさに直接関連するため,その結果,試験結果に大きな差異を生じる。ばらつきは,ESD現象及び試験の意図を理解することで抑制できるものと,条件を整えても抑制できないものがあり試験規格としての本質的な問題にもなっている。接触放電試験及び気中放電試験の規格としてESD現象を整理して,規格の課題を抽出する。

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