商品情報にスキップ
1 1

広帯域化した波長掃引レーザによる透過スペクトル測定の基礎実験

広帯域化した波長掃引レーザによる透過スペクトル測定の基礎実験

通常価格 ¥440 JPY
通常価格 セール価格 ¥440 JPY
セール 売り切れ
税込

カテゴリ: 部門大会

論文No: 3-P-D-3

グループ名: 【A】令和3年電気学会基礎・材料・共通部門大会

発行日: 2021/09/01

著者名: 中本 瑛(日本大学), 山口 達也(日本大学), 篠田 之孝(日本大学)

キーワード: ファイバレーザ|近赤外分光|ファイバブラッググレーティング|光ファイバセンサ

要約(日本語): 近赤外分光法は物質の状態を非破壊・非接触で分析できる方法として注目されている。本研究の目的は波長1.55μm領域の広帯域な波長掃引レーザを用いたリアルタイム分光測定システムを開発することである。本文は波長掃引幅を120nmに広帯域化した波長掃引レーザを構築し,複数のファイバブラッググレーティングを用いた透過スペクトル測定の基礎的実験を行った報告である。

PDFファイルサイズ: 476 Kバイト

販売タイプ
書籍サイズ
ページ数
詳細を表示する