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シリコーンゲルの電気トリー破壊電圧に及ぼす昇圧速度の影響/Effect of Voltage Rise Time on Electrical Treeing Breakdown Voltage of Silicone Gel
シリコーンゲルの電気トリー破壊電圧に及ぼす昇圧速度の影響/Effect of Voltage Rise Time on Electrical Treeing Breakdown Voltage of Silicone Gel
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カテゴリ: 部門大会
論文No: 13-C-a1-3
グループ名: 【A】令和4年電気学会基礎・材料・共通部門大会
発行日: 2022/08/30
著者名: 西川 佳那(名古屋大学), 栗本 宗明(名古屋大学), 川島 朋裕(豊橋技術科学大学), 武藤 浩隆(名古屋大学)
キーワード: シリコーンゲル|電気トリー|絶縁破壊|課電速度
要約(日本語): シリコーンゲルはパワーモジュールの封止材として用いられており、高電界にさらされることによって電気トリー劣化が発生する。そのため、ゲルの電気絶縁強度はモジュールの絶縁設計において重要である。本報告では、絶縁強度の評価に用いる課電条件がシリコーンゲルの電気トリー破壊電圧に及ぼす影響を調べた。その結果、電圧印加時の昇圧速度が速いほどシリコーンゲルの電気トリー破壊電圧が高くなることが分かった。
PDFファイルサイズ: 359 Kバイト
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