高分子材料の構造の違いと二次電子放出特性の関係

カテゴリ: 部門大会

論文No: 13-P-C-4

グループ名: 【A】令和4年電気学会基礎・材料・共通部門大会

発行日: 2022/08/30

著者名: 天水 皐輔(東京都市大学), 佐藤 孔亮(東京都市大学), 榎 海星(東京都市大学), 三宅 弘晃(東京都市大学), 田中 康寛(東京都市大学)

キーワード: 高分子|二次電子放出|放射線

要約(日本語): 宇宙機や真空絶縁機器等の健全性担保の為、絶縁材料の電気物性評価を行う必要がある。そこで本研究では二次電子放出係数(SEEY)に着目し、測定評価を行っている。高分子材料は、様々な分子結合の組み合わせにより作られている。使用を想定している宇宙環境は、放射線環境下であるため材料の劣化が考えられる。放射線劣化により材料の分子構造が変化するため、必然的に電気特性が変化するとされている。そのため、分子構造の違いが及ぼすSEEYの影響を考慮する必要がある。既報では、構造が近い高分子材料のSEEYを評価比較し、分子構造との関係性を調査した。

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