低抵抗測定における測定器のドリフト除去

カテゴリ: 部門大会

論文No: 14-B-p1-6

グループ名: 【A】令和4年電気学会基礎・材料・共通部門大会

発行日: 2022/08/30

著者名: 倉持 幸佑(東京都立産業技術研究センター), 佐々木 正史(東京都立産業技術研究センター)

キーワード: 低電気抵抗|ドリフト|精密測定

要約(日本語): 近年、小型端末や車載機器等の電子機器において、小型化や大容量化により発熱量の低減が求められ、シャント抵抗などをはじめとする抵抗素子の低抵抗化が進んでいる。それを扱うユーザーには、これまで以上に精密に測定する技術が要求される。しかし、低抵抗領域では測定器のドリフトが測定結果に影響することが問題であった。 そこで、リレーによる切り替え回路と制御プログラムを作製し、短絡回路と測定対象を一定間隔で交互に測定することにより、測定対象の測定値に含まれるドリフトの影響を推定する手法を試みた。切り替えの間隔やリレーの種類について検討した結果、ドリフトを除去した測定を実現したので報告する。

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