【招待講演】スイッチギヤの絶縁破壊の予兆現象に対するセンシング技術

カテゴリ: 部門大会

論文No: 2-B-p1-6

グループ名: 【A】令和６年電気学会基礎・材料・共通部門大会

発行日: 2024/08/26

著者名: 藤井 祐樹(東芝インフラシステムズ), 高田 翔平(東芝インフラシステムズ), 神谷 朋輝(東芝インフラシステムズ), 中村 勇介(東芝インフラシステムズ), 長 広明(東芝インフラシステムズ)

キーワード: 部分放電|TEV法|固体絶縁物|変圧器|スイッチギヤ|

要約(日本語): 弊社は,運転中のスイッチギヤの絶縁破壊の予兆現象を捉えるために,TEV法を用いた部分放電計測・監視技術の開発を行っている。_x000D_ スイッチギヤ収納機器であるモールド変圧器を対象として,定格電圧よりも高い電圧を印加することで加速劣化させ,絶縁破壊までの部分放電データを収集した。劣化初期は部分放電電荷量が100pC以下で推移し,劣化末期にかけて1000pC以上に増加する傾向を確認した。また一方で劣化初期から部分放電を検知するには,部分放電信号と環境ノイズを分離する信号処理技術が必要である。当社では,部分放電信号の波形形状に着目する手法を開発した。_x000D_ 以上の技術開発は,絶縁破壊の予兆となる部分放電の早期検知を実現するものであり,スイッチギヤの安全な運用に貢献できるものと考える。

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