電界誘起第二高調波発生法に基づく斜め偏光入射による電界ベクトル分布計測

カテゴリ: 部門大会

論文No: 2-F-p1-7

グループ名: 【A】令和６年電気学会基礎・材料・共通部門大会

発行日: 2024/08/26

著者名: 佐藤 丈尚(東京大学), 梅本 貴弘(東京大学), 佐藤 正寛(東京大学), 藤井 隆(東京大学), 熊田 亜紀子(東京大学)

キーワード: 電界計測|電界ベクトル計測|第二高調波発生|フェムト秒レーザ|斜め偏光|三次元計測

要約(日本語): 非接触,非侵襲かつ高感度の電界計測法として,電界誘起第二高調波発生法が注目されている。従来,電界のベクトル計測では測定したい電界ベクトルの方向に入射レーザの偏光面を揃える必要があり,縦横それぞれの電界を測るためには入射レーザの偏光面を変える必要があった。本研究では,入射レーザの偏光を斜めに入射し,第二高調波の縦横成分を分離して信号を取得することでレーザ光路に沿った縦・横電界の線形結合による分布を推定し,電界ベクトル分布を推定する手法を用いた。平行棒電極によるローレンツ電界に斜め45°でレーザを入射したときの信号強度の理論値と実測値がほぼ10%以内で一致し,電界強度を12%以内の誤差で復元することに成功した。

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