高温下での直流課電がエポキシ樹脂の絶縁性能に与える影響

カテゴリ: 部門大会

論文No: 2-P2-6

グループ名: 【A】令和６年電気学会基礎・材料・共通部門大会

発行日: 2024/08/26

著者名: 進藤 敦樹(東京都市大学), 岡島 侑哉(東京都市大学), 三宅 弘晃(東京都市大学), 田中 康寛(東京都市大学)

キーワード: エポキシ樹脂|劣化|空間電荷分布|パルス静電応力(PEA)法|電流積分電荷(Q(t))法|

要約(日本語): パワー半導体の封止材として用いられているエポキシ樹脂は、高温・高電界下でも優れた絶縁性能を有することが要求されるが、高温・直流高電界下では多量の正ヘテロ空間電荷が蓄積した後、絶縁破壊が生じることが報告されている。正ヘテロ空間電荷の発生原因とは、分子鎖切断などの不可逆的な劣化であると考えている。事前に高温環境下にて課電処理を行った試料に対し、絶縁劣化の評価として電流積分電荷法(Q(t)法)による測定を行った。その結果、加熱課電処理を施した試料では、絶縁性能が低下する可能性があることが明らかになった。この結果により、正ヘテロ空間電荷の蓄積がエポキシ樹脂の絶縁性能を低下させている可能性があることが分かった。

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