XPSとXAFS分析によるポリエチレン/TiO2ナノコンポジット中のTiO2フィラーの電子トラップ深さの評価

カテゴリ: 部門大会

論文No: 4-A-a1-4

グループ名: 【A】令和６年電気学会基礎・材料・共通部門大会

発行日: 2024/08/26

著者名: 片瀬 大祐(東京大学), 熊田 亜紀子(東京大学), 梅本 貴弘(東京大学), 佐藤 正寛(東京大学), 小野田 貴亮(住友電気工業), 久保 優吾(住友電気工業), 上村 重明(住友電気工業), 関口 洋逸(住友電気工業)

キーワード: ナノコンポジット|XAFS|ポリエチレン|XPS|TiO2|第一原理計算

要約(日本語): 著者らはこれまでにポリマー/フィラー界面の正孔トラップ深さをXPSにより測定する手法を開発した。本研究ではXPSとXAFS分析による界面の電子トラップ深さの測定手法を提案する。TiO2ナノコンポジットLDPEを対象とした測定から,TiO2はLDPEとの界面で電子をトラップできることが示され,その深さは3.3 eVと求められた。この結果はTiO2添加によりPEへの電荷注入が抑制された先行研究の結果と定性的に一致した。また,この値は第一原理計算によって得られた値と同程度であった。著者らが提案した手法は界面のバンドアラインメントの評価を可能にし,ポリマーナノコンポジット絶縁材料における優れた電気的特性の発現メカニズムの解明に大きく寄与できると考えられる。

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