FDTD法によるTEVセンサの波形伝搬解析

カテゴリ: 部門大会

論文No: 4-B-a1-3

グループ名: 【A】令和６年電気学会基礎・材料・共通部門大会

発行日: 2024/08/26

著者名: 神谷 朋輝(東芝インフラシステムズ), 竪山 智博(東芝インフラシステムズ), 藤井 祐樹(東芝インフラシステムズ), 中村 勇介(東芝インフラシステムズ)

キーワード: TEVセンサ|過渡接地電圧|部分放電

要約(日本語): 電力機器の劣化状況を把握するために、TEV(過渡的接地電圧)センサを用いた部分放電計測が近年増加傾向にある。機器の故障を推定するためには,非常に短い時間で変動する波形を高い測定精度で検出する必要があり,現在までにTEVセンサの測定環境やTEVセンサの形状ついての研究が進められてきた。部分放電が発生すると電磁波を介する高周波成分と接地線を介する低周波成分の信号が伝搬することが知られているが,これらの波形の伝搬の電磁界シミュレーションが十分にされていないという課題があった。そこで,本論文では,FDTD法を用いてこれらの波形の伝搬解析を行う。

PDFファイルサイズ: 509 Kバイト