高電界パルスに対する細菌の耐性に関する研究

カテゴリ: 部門大会

論文No: 4-F-a2-4

グループ名: 【A】令和６年電気学会基礎・材料・共通部門大会

発行日: 2024/08/26

著者名: 永吉 拓人(熊本大学), 木村 琉哉(熊本大学), 顔 秉宇(熊本大学), 勝木 淳(熊本大学)

キーワード: パルス電界|殺菌|グラム陽性菌|グラム陰性菌|誘電分光法|膜横断電界

要約(日本語): 現行の液状食品の加熱殺菌処理は,確実に所望のレベルの殺菌が可能である反面,風味の劣化や栄養素の損失など食品品質上の課題がある.そのため,パルス電界(PEF)は,有望な非加熱・低温殺菌法の一つとして注目されている.細菌は2種類に分類され,厚い細胞壁がありグラム陽性菌と,薄い細胞壁に加え細胞膜があるグラム陰性菌である.構造の違いから,異なるPEF耐性が報告されている.本研究では, 周波数領域誘電分光法を用いて測定した菌液の誘電物性と,数理物理モデルを用いた数値計算から得られる菌液物性を比較することによって,菌のミクロな物性値を評価した.本論文では, それぞれの菌のPEFによる物性変化を調べ,PEFへの耐性について議論する.

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