セキュリティ素子応用に向けた液晶のシュリーレン組織画像からの特有の交点に着目した特徴量抽出

カテゴリ：部門大会

論文No：3-P1-36

グループ名：【A】令和７年電気学会基礎・材料・共通部門大会

発行日：2025/8/27

タイトル(英語)：

著者名：阿部 泰千(近畿大学)，中山 敬三(近畿大学)

著者名(英語)：

キーワード：ネマチック液晶 Nematic Liquid Crystal,画像処理 image processing,セキュリティ security,シュリーレン schlieren,PUF

要約(日本語)：ネマチック液晶で観察される光学組織パターンの1つであるシュリーレン組織パターンは,素子製作過程に起因する光学的不均一性を示し,複製困難かつ一意性を有すると考えられることからセキュリティ応用が期待される。本研究では,シュリーレン組織に見られる特有の交点を抽出し,その情報を特徴量として用いることで,素子ごとの模様を識別する手法を提案する。まず分岐点の座標,密度,数,ブラシ構造の本数,向きを使用し特徴量とすることを検討した。

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