【招待講演】ケーブルのオフライン診断の最新動向

カテゴリ：部門大会

論文No：4-D-a1-2

グループ名：【A】令和７年電気学会基礎・材料・共通部門大会

発行日：2025/8/27

タイトル(英語)：

著者名：末長 清佳(電気科学技術アカデミー),　上山 哲平(JFEスチール),　竹内 悠人(JFEスチール),　中曽 哲史(JFEスチール)

著者名(英語)：

キーワード：VLF,誘電正接,DAC,IRC,絶縁診断

要約(日本語)：高圧および特別高圧ケーブルの絶縁をオフラインで診断する技術について日本では未だ馴染みのないVLF-tanδ法、DAC法、IRC法について紹介する。 VLF-tanδ法は、1Hz以下の超低周波交流電源を用いて誘電正接(tanδ)を測定し劣化判定を行うものでIEEE400.2に判定基準が記載されるなど海外では普及が始まっている。 DAC法はdamped ac voltageを用いて部分放電の発生・消滅電圧(PDIV・PDEV)や部分放電の発生位置を標定する技術で、IEEE400.3で紹介されている。 IRC法は水トリー診断を得意とする診断法であるが、海外ではその役目を終えようとしている。 ここでは国内のケーブルに適用する際に注意すべき点などを事例を交えて紹介する。

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