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SiC-MOSFETインバータ電源により生成した高繰り返しパルス電圧下のエナメル線ツイストペアにおける部分放電のパルス印加回数特性
SiC-MOSFETインバータ電源により生成した高繰り返しパルス電圧下のエナメル線ツイストペアにおける部分放電のパルス印加回数特性
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カテゴリ:部門大会
論文No:5-A-a1-3
グループ名:【A】令和7年電気学会基礎・材料・共通部門大会
発行日:2025/8/27
タイトル(英語):
著者名:石見 歩夢(兵庫県立大学),大里 辰希(兵庫県立大学),石川 裕卓(三菱電機),宮路 仁崇(三菱電機),大竹 泰智(三菱電機),奥田 貴史(ネクスファイ・テクノロジー) 中村 孝(ネクスファイ・テクノロジー) 菊池 祐介(兵庫県立大学)
著者名(英語):
キーワード:インバータサージ,部分放電,SiCインバータ,エナメル線
要約(日本語):インバータ駆動モータにおいて繰り返し発生するサージ電圧によりモータコイルにおいて部分放電が生じ、絶縁破壊に至る危険性がある。我々はSiC-MOSFETインバータ電源により生成した高繰り返しナノ秒パルス電圧(パルス幅:500 ns、周波数:2 kpps)をツイストペア試料に印加して部分放電特性を調査している。本研究では部分放電開始・消滅特性(PDIV, RPDIV, PDEV, RPDEV)にパルス電圧の印加回数が与える影響を調査した。その結果、印加回数が20回から2000回に増加すると、PDIVとRPDIVは約50 V、PDEVは約130 V、RPDEVは約200 V減少した。講演では部分放電発生確率とパルス印加回数の関係や絶縁試験への影響などについて議論する。
PDFファイルサイズ:285Kバイト
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