メガソーラのPVモジュールの汚れ損失評価手法

カテゴリ: 部門大会

論文No: 56

グループ名: 【B】令和2年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2020/08/28

タイトル(英語): In-situ Evaluation of the PV Perfomance & Soiling Loss using SA Method for Mega Solar Systems

著者名: 井上芳範（富士電機），福島宗次（富士電機），篠沢秀幸（富士アイティ）

著者名(英語): Yoshinori Inoue (Fuji Electric Co.,Ltd), Souji Fukushima (Fuji Electric Co.,Ltd), Hideyuki Shinozawa (Fuji IT Co.,Ltd)

キーワード: PV診断|PVモジュール汚れ|遠隔監視|メガソーラ|PV Diagnostic|PV Module Soiling|Remote Surveillance|Mega Solar

要約(日本語): PVモジュールに付着した汚れは発電性能へ大きな影響を及ぼす。SA法というPVストリング効率計算アルゴリズムを使い、日レベルで変動するアレイ負荷ミスマッチ、分光応答変動、過渡的日陰損失や，定損失であるアレイ回路損失の影響を取り除きPV運転効率を算出し、参照PVモジュールを使用しなくとも、評価期間の汚れ損失増加が把握できることを事例で示した。

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