赤外線カメラによる太陽電池モジュールのバイパス回路の故障検出技術－複数箇所部分短絡故障の場合－

カテゴリ: 部門大会

論文No: 345

グループ名: 【B】令和2年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2020/08/28

タイトル(英語): Fault Detection Technology for Bypass Circuit of PV Module with IR Camera-In Case of Multiple Partial Short Faults Occurrence-

著者名: 黒田拓希（日本大学），西川省吾（日本大学）

著者名(英語): Hiroki Kuroda (Nihon University), Shougo Nishikawa (Nihon University)

キーワード: 太陽電池|バイパス回路|故障検出|赤外線カメラ|二値化|Photovoltaic|Bypass Circuit|Fault Detection|Infrared Camera|Binarization

要約(日本語): 太陽電池モジュールにはバイパスダイオード(以下Db)を含むバイパス回路が設けられている．しかしDbが短絡故障した場合，モジュール全体の出力は低下してしまう．筆者らはこれまで外部から太陽電池モジュールに対して方形波の逆電流を流し意図的に規則性のある温度変化をモジュール表面に生じさせ，その温度変化を赤外線カメラによって観測し，周波数解析することで複数箇所の完全短絡故障を特定する技術を提案してきた．しかしながら，Dbが正常値より抵抗成分が低下した状態(以下，部分短絡故障)が複数存在しても検出可能か調査した結果1Ω以下の部分短絡故障であれば複数存在しても故障検出可能であることを確認した．

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