熱画像を利用したBPD開放故障判定方法に関する研究8　－開放故障の多いストリングの検出法－

カテゴリ: 部門大会

論文No: 346

グループ名: 【B】令和2年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2020/08/28

タイトル(英語): Study on Method of Judging Open Failure of BPD Using Thermal Image 8 - A method of detecting strings with many open failures -

著者名: 上田紘巨（名城大学），山中三四郎（名城大学），青山泰宏（トーエネック），西戸雄輝（トーエネック），小林浩（トーエネック）

著者名(英語): Koki Ueda (Meijo University), Sanshiro Yamanaka (Meijo University), Yasuhiro Aoyama (TOENEC Corporation), Yuki Nishido (TOENEC Corporation), Hiroshi Kobayashi (TOENEC Corporation)

キーワード: 太陽電池|熱画像|バイパスダイオード|開放故障|遮光|Photovoltaic|Thermal image|Bypass diode|Open failure|Shaded

要約(日本語): バイパスダイオード（BPD）が開放故障すると，セルが高温に発熱し損傷させる恐れがある。そのため，開放故障箇所を効率的に特定する方法が必要である。そこで，筆者らは熱画像を利用し効率的に故障箇所を特定する方法の確立を目指している。これまでに，故障箇所が3箇所以上となると，あまり発熱しない開放故障クラスタが存在するようになり，同時に全ての故障箇所を特定することが困難となった。本報告では，開放故障検出の判断に困るクラスタが存在する場合の対処法を検討した。その結果，対処法を行うことで開放故障の誤判定を招くことはなくなり，何箇所が開放故障していても検出可能となることが分かった。

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