JT-60SA CSにおける構造物の影響による導体間電圧の評価

カテゴリ: 部門大会

論文No: 359

グループ名: 【B】令和2年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2020/08/28

タイトル(英語): Evaluation of Voltage between Conductors Affected by Structures in JT-60SA CS

著者名: 園田翔梧（上智大学），廣瀬雄太（上智大学），中村一也（上智大学），村上陽之（量子科学技術研究開発機構），濱田一弥（量子科学技術研究開発機構）

著者名(英語): Shogo Sonoda (Sophia University), Yuta Hirose (Sophia University), Kazuya Nakamura (Sophia University), Haruyuki Murakami (National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology), Kazuya Hamada (National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology)

キーワード: JT-60SA|核融合|中心ソレノイド|安定性|JT-60SA|fusion|Central solenoid|stability

要約(日本語): JT-60SA用超電導マグネットCSは共振現象により不均一な電圧分布が発生し，導体間の絶縁が損傷する可能性がある。先行研究では，ブスバー及びフィーダを含むCSモジュール解析回路に接地抵抗，構造物を付与し共振現象が導体間電圧に及ぼす影響について調査した。本研究では，先行研究の回路を用いてCSと構造物間の静電容量が最大導体間電圧と共振周波数に与える影響，またCS（4モジュール）の解析回路を作成し，JT-60SAの電源と同様の特性を持つJT-60Uの電源電圧を印加時，共振現象が層間電圧に与える影響を調査した。結果，最大導体間電圧は絶縁材端子間電圧設計値を超えず，層間の絶縁は損傷しないことが示された。

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