レーザ誘起ブレイクダウン分光法によるポリマーがいしの劣化進展深さ評価

カテゴリ: 部門大会

論文No: 274

グループ名: 【B】令和3年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2021/08/12

タイトル(英語): Evaluation of Degradation Depth of Polymeric Insulators by Laser-Induced Breakdown Spectroscopy

著者名: 本間大成（東京大学），藤井隆（東京大学），熊田亜紀子（東京大学），本間宏也（電力中央研究所），大石祐嗣（電力中央研究所）

著者名(英語): Taisei Homma (The University of Tokyo), Takashi Fujii (The University of Tokyo), Akiko Kumada (The University of Tokyo), Hiroya Homma (Central Research Institute of Electric Power Industry), Yuji Oishi (Central Research Institute of Electric Power Industry)

キーワード: ポリマーがいし|劣化診断|レーザ誘起ブレイクダウン分光法|深さ分析|遠隔計測|Polymeric insulator|Degradation diagnostics|Laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS)|Depth profiles|Remote sensing

要約(日本語): 本研究ではレーザ誘起ブレイクダウン分光法（LIBS）を用いたポリマーがいしの劣化進展深さ評価手法を提案する。LIBSにより経年21年のポリマーがいし中のSiとAlの発光強度を測定した。その結果，表面付近（深さ200μm程度）で劣化に伴うSiの成分量の低下が認められ，また内部（深さ400μm程度）にかけて劣化の影響が弱まることに起因するSiの成分量の増大が確認された。さらに，エネルギー分散型X線分光法（EDX）により同経年ポリマーがいし中のSiとAlの相対成分比を計測した結果，同様に表面劣化層でのAlに対するSi成分の低下を確認した。以上の結果により，Alに対するSiの発光強度比という指標でLIBSを用いたポリマーがいしの劣化進展深さ評価が可能であることが示唆された。

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