部分影を利用した短絡故障バイパスダイオード検出方法

カテゴリ: 部門大会

論文No: 214

グループ名: 【B】令和4年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2022/08/26

タイトル(英語): A detection method for short-circuit fault bypass diode using a partial shadow

著者名: 平田航（津山工業高等専門学校），桶真一郎（津山工業高等専門学校），南野郁夫（宇部工業高等専門学校），藤井雅之（大島商船高等専門学校），石倉規雄（米子工業高等専門学校），濱田俊之（大阪電気通信大学）

著者名(英語): Wataru Hirata (National Institute of Technology, Tsuyama College), Shinichiro Oke (National Institute of Technology, Tsuyama College), Ikuo Nanno (National Institute of Technology, Ube College), Fujii Masayuki (National Institute of Technology, Oshima College), Norio Ishikura (National Institute of Technology, Yonago College), Toshiyuki Hamada (Osaka Electro-Communication University)

キーワード: 短絡故障|バイパスダイオード|部分影|I-V カーブ|曲線因子|short-circuit fault|bypass diode|partial shadow|I-V curve|fill factor

要約(日本語): 太陽電池（PV）モジュールが備えるバイパスダイオード（BPD）が短絡故障すると，循環電流や逆方向電流によって過熱し発火に至る恐れがある。近年，太陽光発電設備（PVS）におけるBPDやその他の故障の早期検出手法については多くの研究例がある。筆者らのグループは，PVアレイ上に生じた部分影が移動するときのI-Vカーブの変化に注目し，短絡故障BPDを検出する技術を開発している。本報では，短絡故障したBPDを含むPVアレイ上で部分影を移動させながらI-Vカーブを計測し，その時間的変化に基づいて短絡故障BPDを検出する方法について報告する。

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