PMUを用いた短絡容量の推定における過渡現象の影響

カテゴリ: 部門大会

論文No: 271

グループ名: 【B】令和4年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2022/08/26

タイトル(英語): Effect of Transient Phenomenon on Estimation of Short Circuit Capacity Using PMUs

著者名: 煤ヶ谷拓実（東京工業大学），河辺賢一（東京工業大学），Verma S. C.（中部電力）

著者名(英語): Takumi Susugaya (Tokyo Institute of Technology), Kenichi Kawabe (Tokyo Institute of Technology), S. C. Verma (Chubu Electric Power Co., Inc.)

キーワード: 電力系統|短絡容量|PMU|テブナンパラメータ|電気回路|過渡現象|power systems|short circuit capacity|phasor measurement unit|Thevenin parameters|electrical circuit|transient phenomenon

要約(日本語): 再生可能エネルギーの導入増加に伴い短絡容量が減少し，電力系統の安定運用・電力品質維持が懸念されている。電圧等電力品質を維持には，短絡容量の把握が必要である。この論文では，遠方からの電圧・電流情報を通信できるPMUを用いた短絡容量の推定において，電気回路の過渡現象が誤差の要因となりうることに注目し，その影響を数値シミュレーションにより示す。シミュレーションでは過渡現象が生じる条件を設定し，系統モデルに適用して数値シミュレーションを行った。結果より，PMUからの計測値が過渡現象を含む場合は推定精度が低下することが確認された。

PDFファイルサイズ: 427 Kバイト