The Test Voltage Function and its Application to Switching Impulse Waveform Parameter Evaluation using the Forthcoming IEC 60060-1 Definition
The Test Voltage Function and its Application to Switching Impulse Waveform Parameter Evaluation using the Forthcoming IEC 60060-1 Definition
カテゴリ: 部門大会
論文No: 49
グループ名: 【B】令和6年電気学会電力・エネルギー部門大会
発行日: 2024/08/23
タイトル(英語): The Test Voltage Function and its Application to Switching Impulse Waveform Parameter Evaluation using the Forthcoming IEC 60060-1 Definition
著者名: 清水博幸(日本工業大学),里周二(宇都宮大学),西村誠介(横浜国立大学)
著者名(英語): Hiroyuki Shimizu (Nippon Institute of Technology), Shuji Sato (Utsunomiya University), Seisuke Nishimura (Yokohama National University)
キーワード: IEC 60060-1|IEC 61083-3|開閉インパルス電圧波形パラメータ|ライインパルス電圧波形パラメータ|試験電圧函数|離散化波形のフーリエ変換|IEC 60060-1|IEC 61083-3|Switching Impulse Waveform Parameter|Lightning Impulse Waveform Parameter|Test Voltage Function|Fourier Transform of Discrete Waveform
要約(英語): Switching impulse voltage waveform parameters are newly to be evaluated by the same definition used with lightning impulse waveform, IEC 60060-1:2010. The paper treats a validity of applying the test voltage function for a superposing noise generated by recording device.Frequency spectrum of the discretised impulse voltage waveform at a given sampling interval is analysed.
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