太陽電池モジュール劣化判定手法の比較と画像解析

カテゴリ: 部門大会

論文No: 186

グループ名: 【B】令和6年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2024/08/23

タイトル(英語): Comparative Analysis of Defective Solar PV Module Inspection Using Imaging Techniques

著者名: 中川昂太（芝浦工業大学），アブラハム カリガンベ（芝浦工業大学），藤田吾郎（芝浦工業大学）

著者名(英語): Kota Nakagawa (Shibaura Institute of Technology), Abraham Kaligambe (Shibaura Institute of Technology), Goro Fujita (Shibaura Institute of Technology)

キーワード: 太陽光発電|太陽電池欠陥|エレクトロルミネッセンスイメージング|赤外線イメージング|photovoltaic|solar defects|electroluminescence imaging|thermal infrared imaging

要約(日本語): 太陽光発電（PV）システムの欠陥を効率的に検査するために、熱赤外（IR）イメージングとエレクトロルミネッセンス（EL）イメージングを比較しました。研究結果では、ELイメージングが特に微細な欠陥を検出するのに最も効果的であることが示されました。IRイメージングは温度に影響する欠陥には有効ですが、微細な欠陥の検出には限界があります。ELイメージングは低コストでシンプルなため、幅広いPVシステムに適しています。出力結果を画像解析を通すことで、欠陥セルの特定に有用であり、欠陥の見落としを防ぐことができる。一方で、閾値設定が手動であることや解析精度が低いという課題に対処する必要がある。

PDFファイルサイズ: 4,200 Kバイト