真空遮断器における絶縁回復特性評価に向けた多結像光学系によるアノード表面温度計測

カテゴリ: 部門大会

論文No: 244

グループ名: 【B】令和6年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日: 2024/08/23

タイトル(英語): Measurement of Anode Surface Temperature Using Multiple-Image Optical System for Evaluating Dielectric Recovery in Vacuum Interrupters

著者名: 髙林拓海（東京大学），佐藤正寛（東京大学），梅本貴弘（東京大学），山村健太（明電舎），加藤和也（明電舎），日髙邦彦（東京大学），熊田亜紀子（東京大学）

著者名(英語): Takumi Takabayashi (The University of Tokyo), Masahiro Sato (The University of Tokyo), Takahiro Umemoto (The University of Tokyo), Kenta Yamamura (Meidensha), Kazuya Kato (Meidensha), Kunihiko Hidaka (The University of Tokyo), Akiko Kumada (The University of Tokyo)

キーワード: 真空遮断器|アノード表面温度|近赤外二色法|多結像光学系|vacuum interrupter|anode surface temperature|near-infrared two-color method|multiple-image optical system

要約(日本語): 交流系統における真空遮断器では，電流ゼロ点にて消孤後も逆極性電圧によって再発弧することが懸念される。これは電極面からの金属蒸気に起因するため，電極表面温度は絶縁回復特性を評価する重要な指標である。本研究では多結像光学系を用いることで，CuCr合金電極における交流遮断時電流ゼロ点後のアノード表面温度を計測した。温度が減衰する過程では，CuおよびCrの融点の間である1800 K付近での温度停滞が確認された。取得した表面温度分布に基づき金属蒸気量を比較したところ，電極間距離が長い場合ではアークが均一に分布することで消孤直後の蒸気量は抑えられるものの，温度停滞時の溶融面積が拡大する傾向が見られた。

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