商品情報にスキップ
1 1

太陽電池モジュールの劣化診断における緩和時間分布解析法の有効性の検討

太陽電池モジュールの劣化診断における緩和時間分布解析法の有効性の検討

通常価格 ¥440 JPY
通常価格 セール価格 ¥440 JPY
セール 売り切れ
税込

カテゴリ:部門大会

論文No:P60

グループ名:【B】令和7年電気学会電力・エネルギー部門大会

発行日:2025/9/5

タイトル(英語):Evaluation of the Effectiveness of DRT Analysis for Degradation Diagnosis of Photovoltaic Modules

著者名:上野真之(東京理科大学),渋谷陸斗(東京理科大学),片山昇(東京理科大学),小沼大河(東京ガス),亀井宏美(東京ガス),中村理沙(東京ガス),馬場好孝(東京ガス)

著者名(英語): Masayuki Ueno (Tokyo University of Science), Rikuto Shibuya (Tokyo University of Science), Noboru Katayama (Tokyo University of Science), Taiga Konuma (TOKYO GAS), Hiromi Kamei (TOKYO GAS), Risa Nakamura (TOKYO GAS), Yoshitaka Baba (TOKYO GAS)

キーワード:交流インピーダンス法,太陽電池,DRT解析,AC impedance spectroscopy,photovoltaic,distribution of relaxation times (DRT) analysis

要約(日本語):太陽光発電システムの普及に伴い、太陽電池の劣化診断手法の高度化が求められている。従来のI–V測定法やEL法では内部劣化の検出が困難であり、より高精度な非破壊診断手法として交流インピーダンス法が注目されている。本研究では、シリコン型太陽電池モジュールに対して高温高湿環境下で加速劣化試験を行い、得られたインピーダンスデータに対して緩和時間分布(DRT)解析を適用した。DRT解析の結果、pn接合に起因すると考えられる主要なピークの幅が劣化の進行に伴って拡大する傾向が確認され、劣化時間との相関が得られた。一方で、ナイキスト線図などのインピーダンス軌跡からは明確な相関が見られなかったことから、DRT解析によって内部劣化をより高精度に捉えることが可能であり、劣化診断手法として有効であることが示唆された。

PDFファイルサイズ:746Kバイト

販売タイプ
書籍サイズ
ページ数
詳細を表示する