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二段階分類法を用いた外観検査システムの精度及び速度検証

二段階分類法を用いた外観検査システムの精度及び速度検証

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カテゴリ: 部門大会

論文No: TC2-3

グループ名: 【C】2022年電気学会電子・情報・システム部門大会

発行日: 2022/08/24

タイトル(英語): Accuracy and Speed Verification of Visual Inspection System using Two-Step Classification Method

著者名: 杉山 颯太(東京理科大学),相川 直幸(東京理科大学)

著者名(英語): Souta Sugiyama (Tokyo University of Science),Naoyuki Aikawa (Tokyo University of Science)

キーワード: 深層学習|2段階分類|外観検査外観検査|DeepLearning|two-step classification|visual inspection

要約(日本語): 2段階の深層学習を用いた外観検査システムの精度と演算速度について、様々な深層学習ネットワークを用いて比較検討をしている。

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