導波管励振によるTE<sub>10<em>p</em></sub>モード分割方形導波管共振器による広帯域な複素誘電率測定技術の検討
導波管励振によるTE<sub>10<em>p</em></sub>モード分割方形導波管共振器による広帯域な複素誘電率測定技術の検討
カテゴリ:部門大会
論文No:TC18-2
グループ名:【C】2025年電気学会電子・情報・システム部門大会
発行日:2025/8/20
タイトル(英語):Investigation of complex permittivity measurements using a split-rectangular waveguide resonator with TE10p modes excited by waveguides
著者名:平山 直樹(京セラ株式会社),中山 明(京セラ株式会社),吉川 博道(京セラ株式会社),清水 隆志(宇都宮大学)
著者名(英語): Naoki Hirayama (KYOCERA Corporation),Akira Nakayama (KYOCERA Corporation),Hiromichi Yoshikawa (KYOCERA Corporation),Takashi Shimizu (Utsunomiya University)
キーワード:マイクロ波,ミリ波,サブテラヘルツ波,複素誘電率,共振器導波管,microwave,millimeter wave,sub-THz wave,complex permittivity,resonatorwaveguide
要約(日本語):近年、移動体通信の急速な普及と技術進歩に伴い5G通信や車載ミリ波レーダのように、マイクロ波からミリ波帯にわたる広帯域の周波数が利用されるようになっている。基板材料開発や平面回路設計のためには、低損失基板材料の広帯域な複素誘電率の周波数依存性の測定が必要とされる。本研究では分割方形導波管共振器を用いた、誘電体基板の広帯域な複素誘電率測定法を提案する。この方法では、誘電体基板に電界が集中するTE10p共振モードを選択的に励振することが可能であるため、複数の共振モードを利用することで広帯域な複素誘電率の高精度な測定が可能となる。さらに、数千程度の高いQ値が得られるため、低損失な誘電体基板の測定に適している。2022年APMC、2024年電気学会電子デバイス研究会の発表内容に基づき、導波管励振を用いてサブテラヘルツ波へ測定周波数の拡張を行った。
本誌掲載ページ:659-665p
原稿種別:日本語
PDFファイルサイズ:657Kバイト
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