GaN FET用デジタルゲートドライバICを用いた最適ゲート波形の探索過程における過大オーバーシュート回避手法の提案

カテゴリ: 部門大会

論文No: 1-69

グループ名: 【D】2021年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2021/08/18

タイトル(英語): A Method for Avoiding Huge Overshoots in Search Process of Optimum Gate Waveform Using Digital Gate Driver IC for GaN FETs

著者名: 畑 勝裕（東京大学）,堅田 龍之介（東京大学）,高宮 真（東京大学）

著者名(英語): Katsuhiro Hata (The University of Tokyo),Ryunosuke Katada (The University of Tokyo),Makoto Takamiya (The University of Tokyo)

キーワード: デジタルゲートドライバ|最適化|自動探索|オーバーシュート|digital gate driver|Optimization|automatic search|overshoot

PDFファイルサイズ: 978 Kバイト