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IGBTのゲート電圧波形からボンディングワイヤ剥がれを検出する方法

IGBTのゲート電圧波形からボンディングワイヤ剥がれを検出する方法

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カテゴリ: 部門大会

論文No: 1-50

グループ名: 【D】2022年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2022/08/30

タイトル(英語): Method for Detecting Bond Wire Lift-off from IGBT Gate Voltage Waveforms

著者名: 矢野 広気(東京大学),畑 勝裕(東京大学),高宮 真(東京大学)

著者名(英語): Hiroki Yano (The University of Tokyo),Katsuhiro Hata (The University of Tokyo),Makoto Takamiya (The University of Tokyo)

キーワード: IGBT|ゲート電圧|ボンディングワイヤ|剥がれ|IGBT|Gate voltage|Bond wire|Lift-off

PDFファイルサイズ: 816 Kバイト

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