交番磁気力顕微鏡用磁場発生源の改良に向けた基礎検討

カテゴリ: 部門大会

論文No: Y-72

グループ名: 【D】2022年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2022/08/30

タイトル(英語): Basic Study for Improvement of Magnetic Field Source for Alternating Magnetic Force Microscopy

著者名: 大山 祐生（千葉工業大学）,角 真輝（千葉工業大学）,佐藤 宣夫（千葉工業大学）

著者名(英語): Yuki Oyama (Chiba Institute of Technology),Masaki Sumi (Chiba Institute of Technology),Nobuo Satoh (Chiba Institute of Technology)

キーワード: 走査型プローブ顕微鏡|Scanning Probe Microscope

PDFファイルサイズ: 451 Kバイト