繰り返し遮断動作するeFuseに適用可能なSiCデバイスの特性変動評価

カテゴリ: 部門大会

論文No: 45680

グループ名: 【D】2023年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2023/08/16

タイトル(英語): Characteristic Fluctuation Evaluation of SiC Devices for eFuse with Repeated Cutoff Operations

著者名: 髙森 太郎（東京都立大学）,和田 圭二（東京都立大学）,齋藤 渉（九州大学）,西澤 伸一（九州大学）

著者名(英語): Taro Takamori (Tokyo Metropolitan University),Keiji Wada (Tokyo Metropolitan University),Wataru Saito (Kyushu University),Shin-Ichi Nishizawa (Kyushu University)

キーワード: eFuse|SiC|繰り返しUIS|半導体遮断器|eFuse|SiC|Repeated UIS|Solid-state circuit breaker

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