パワーデバイス劣化による特性変動を実装するための解析手法

カテゴリ: 部門大会

論文No: 45681

グループ名: 【D】2023年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2023/08/16

タイトル(英語): Analytical Approaches for Implementing Characteristic Variations Caused by Degradation in Power Devices

著者名: 堂本 航一（東京都立大学）,和田 圭二（東京都立大学）,林 真一郎（千葉工業大学）

著者名(英語): Koichi Domoto (Tokyo Metropolitan University),Keiji Wada (Tokyo Metropolitan University),Shinnichiro Hayashi (Chiba Institute of Technology)

キーワード: 劣化モデル|デバイスシミュレーション|有限要素法|degradation model|device simulation|finite element method

PDFファイルサイズ: 526 Kバイト