IGBTモジュールのチョッパ回路定電流動作時における<em>V</em>CE (sat)測定による熱抵抗増加観測

カテゴリ: 部門大会

論文No: Y-24

グループ名: 【D】2023年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2023/08/16

タイトル：IGBTモジュールのチョッパ回路定電流動作時におけるV_{CE (sat)}測定による熱抵抗増加観測

タイトル(英語): Observation of increase in thermal resistance of an IGBT module with VCE (sat) measurement in a constant-current operation of a chopper circuit

著者名: 植田 永輝（九州工業大学）,長谷川 一徳（九州工業大学）,宍戸 信之（近畿大学）,中野 智（九州大学）,齋藤 渉（九州大学）

著者名(英語): Hisaki Ueda (Kyusyu Institute of Technology),Kazunori Hasegawa (Kyusyu Institute of Technology),Nobuyuki Shishido (Kindai University),Satoshi Nakano (Kyusyu University),Wataru Saito (Kyusyu University)

キーワード: IGBT|VCE(sat)|劣化診断|熱抵抗|IGBT|VCE(sat)|deradation diagnosis|thermal resistance

PDFファイルサイズ: 401 Kバイト