パワー半導体デバイス用過渡熱抵抗測定システムの出力精度向上に関する検討

カテゴリ: 部門大会

論文No: 45674

グループ名: 【D】2024年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2024/08/27

タイトル(英語): A Study on Accuracy Improvement of Calculation Result in a Developed Measurement System for Transient Thermal Resistances of Semiconductor Power Devices

著者名: 小原 秀嶺（横浜国立大学）,中本 英治（アンソフト・スピリット）,梶田 欣（名古屋市工業研究所）,松宮 雷太（コスモ）,高野 和吉（コスモ）

著者名(英語): Hidemine Obara (Yokohama National University),Eiji Nakamoto (Ansoft Spirit),Yasushi Kajita (Nagoya Municipal Industrial Research Institute),Raita Matsumiya (COSMO),Kazuyoshi Takano (COSMO)

キーワード: 過渡熱抵抗|パワー半導体デバイス|熱設計|transient thermal resistance|power semiconductor device|thermal design

PDFファイルサイズ: 815 Kバイト