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35V耐圧高分子固体コンデンサの加速劣化試験による寿命の電圧依存性測定の基礎検討

35V耐圧高分子固体コンデンサの加速劣化試験による寿命の電圧依存性測定の基礎検討

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カテゴリ: 部門大会

論文No: Y-10

グループ名: 【D】2024年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2024/08/27

タイトル(英語): A Basic Study of DC-bias Voltage Dependence Measurement of Lifetime of 35-V Polymer Solid Capacitors by an Accelerated Ageing Test

著者名: 今井 健人(九州工業大学),長谷川 一徳(九州工業大学)

著者名(英語): Kento Imai (Kyushu Institute of Technology),Kazunori Hasegawa (Kyushu Institute of Technology)

キーワード: 高分子固体コンデンサ|加速劣化試験|Polymer Solid Capacitors|Accelerated Ageing Test

PDFファイルサイズ: 496 Kバイト

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