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Si-IGBTのVCE-IC特性に基づいたターンオン時のモデル化

Si-IGBTのVCE-IC特性に基づいたターンオン時のモデル化

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カテゴリ:部門大会

論文No:1-63

グループ名:【D】2025年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日:2025/8/19

タイトル(英語):Modeling of turn-on behavior based on the VCE-IC characteristics of Si-IGBT

著者名:大山 結有花(早稲田大学),川﨑 颯哉(早稲田大学),中村 洋(早稲田大学),近藤 圭一郎(早稲田大学),石川 勝美(日立製作所),金子 貴志(日立製作所)

著者名(英語): Yuka Oyama (Waseda University),Soya Kawasaki (Waseda University),Nakamura Hiroshi (Waseda University),Keiichiiro Kondo (Waseda University),Katsumi Ishikawa (Hitachi),Takashi Kaneko (Hitachi)

キーワード:パワー半導体デバイス,Si-IGBT,スイッチング,ゲート電圧,Power semiconductor device,Si-IGBT,Switching,Gate voltage

要約(日本語):

原稿種別:日本語

PDFファイルサイズ:613Kバイト

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