マルチチップパワーモジュールの配線網に寄生するインダクタンスの測定技術の提案

カテゴリ：部門大会

論文No：1-65

グループ名：【D】2025年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日：2025/8/19

タイトル(英語)：Proposal of measurement technique for parasitic inductance in the wiring network of multi-chip power modules

著者名：岡村 直哉（岡山大学）,石原 將貴（岡山大学）,梅谷 和弘（九州大学）,坂井 優斗（ローム）,平木 英治（岡山大学）

著者名(英語)： Naoya Okamura (Okayama University),Masataka Ishihara (Okayama University),Kazuhiro Umetani (Kyushu University),Hiroto Sakai (ROHM),Eiji Hiraki (Okayama University)

キーワード：寄生インダクタンス抽出,マルチチップパワーモジュール,シリコンカーバイド(SiC)-MOSFET,Parasitic inductance extraction,Multichip power module,Silicon carbide(SiC)-MOSFET

要約(日本語)：

原稿種別：日本語

PDFファイルサイズ：1,296Kバイト