GaN HEMT LLC共振コンバータの寿命推定

カテゴリ：部門大会

論文No：1-66

グループ名：【D】2025年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日：2025/8/19

タイトル(英語)：Estimating the switching lifetime of GaN HEMT under LLC resonant converter

著者名：沖 宏一（ローム）,山下 博史（ローム）,財津 俊行（ローム）

著者名(英語)： Hirokazu Oki (ROHM),Hiroshi Yamashita (ROHM),Toshiyuki Zaitsu (ROHM)

キーワード：パワートランジスタ,電界効果トランジスタ,ワイドバンドギャップ半導体,窒化ガリウム,power transistor,field-effect transistor,wide bandgap semiconductor,gallium nitride

要約(日本語)：

原稿種別：日本語

PDFファイルサイズ：1,111Kバイト