スイッチング損失とゲートドライブ損失を削減する共振アクティブゲート駆動回路の実証

カテゴリ：部門大会

論文No：1-73

グループ名：【D】2025年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日：2025/8/19

タイトル(英語)：Resonant active gate drive circuits that reduce switching and gate drive losses

著者名：福永 博生（東京大学）,矢野 広気（東京大学）,畑 勝裕（芝浦工業大学）,井出 倫滉（東京大学）,鋤田 陽平（東京大学）,高森 太郎（東京大学）,梁 耀淦（東京大学）,渡辺 健一（豊田自動織機）,近藤 弘規（豊田自動織機）,永吉 謙一（豊田自動織機）,高宮 真（東京大学）

著者名(英語)： Hiroki Fukunaga (The University of Tokyo),Hiroki Yano (The University of Tokyo),Katsuhiro Hata (Shibaura Institute of Technology),Michihiro Ide (The University of Tokyo),Yohei Sukita (The University of Tokyo),Taro Takamori (The University of Tokyo),Yaogan Liang (The University of Tokyo),Kenichi Watanabe (Toyota Industries),Hiroki Kondo (Toyota Industries),Kenichi Nagayoshi (Toyota Industries),Makoto Takamiya (The University of Tokyo)

キーワード：GaN FET,ゲート駆動回路,アクティブゲート駆動,共振回路,GaN FET,Gate driver,active gate drive,resonant circuits

要約(日本語)：

原稿種別：日本語

PDFファイルサイズ：668Kバイト