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SiC/GaNモータドライブにおけるモータ巻線の絶縁寿命評価

SiC/GaNモータドライブにおけるモータ巻線の絶縁寿命評価

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カテゴリ:部門大会

論文No:Y-1

グループ名:【D】2025年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日:2025/8/19

タイトル(英語):Insulation life test for motor windings under SiC/GaN motor drive

著者名:小早川 和希(名古屋工業大学),松盛 裕明(名古屋工業大学),小坂 卓(名古屋工業大学)

著者名(英語): Kazuki Kobayakawa (Nagoya Institute of Technology),Hiroaki Matsumori (Nagoya Institute of Technology),Takashi Kosaka (Nagoya Institute of Technology)

キーワード:電動車,絶縁寿命,信頼性,モータ,xEV,insulation,lifetime,motor

要約(日本語):

原稿種別:日本語

PDFファイルサイズ:547Kバイト

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