ダブルパルス試験によるエミッタ寄生インダクタンスとバスインダクタンスの関係の理論検討と測定

カテゴリ：部門大会

論文No：Y-5

グループ名：【D】2025年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日：2025/8/19

タイトル(英語)：A Theoretical Analysis and Measurement of the Relationship between Emitter Parasitic and Bus Inductances with the Double Pulse Test

著者名：宮井 洸輔（九州工業大学）,長谷川 一徳（九州工業大学）,平野 真希子（東芝）,瀧本 和靖（東芝）,児山 裕史（東芝）

著者名(英語)： Kosuke Miyai (Kyushu Institute of Technology),Kazunori Hasegawa (Kyushu Institute of Technology),Makiko Hirano (Toshiba),Kazuyasu Takimoto (Toshiba),Yushi Koyama (Toshiba)

キーワード：IGBT,インバータ,ダブルパルス試験,ダイオード,IGBTs,Inverters,Double Pulse Test,Diodes

要約(日本語)：

原稿種別：日本語

PDFファイルサイズ：410Kバイト