GaNデバイスMHz駆動時の出力容量充放電による損失測定

カテゴリ：部門大会

論文No：Y-27

グループ名：【D】2025年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日：2025/8/19

タイトル(英語)：Measurement of Losses Due to Charging of Output Capacitance in GaN Devices at MHz Frequencies

著者名：Prashobh Arjun（長岡技術科学大学）,山口 正通（長岡技術科学大学）,渡辺　 大貴（長岡技術科学大学）,伊東 淳一（長岡技術科学大学）

著者名(英語)： Arjun Prashobh (Nagaoka University of Technology),Masamichi Yamaguchi (Nagaoka University of Technology),Hiroki Watanabe (Nagaoka University of Technology),Jun-ichi Itoh (Nagaoka University of Technology)

キーワード：GaN デバイス,出力容量,カロリー法,GaN device,Output capacitance,Calorimetric power loss measurement

要約(日本語)：

原稿種別：日本語

PDFファイルサイズ：415Kバイト