パワーデバイスの状態監視を目的としたゲートしきい値電圧変動の検出方法

カテゴリ：部門大会

論文No：Y-88

グループ名：【D】2025年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日：2025/8/19

タイトル(英語)：Detection method for gate threshold voltage fluctuations for condition monitoring of power devices

著者名：河田 莉恩（千葉工業大学）,林 真一郎（千葉工業大学）,和田 圭二（東京都立大学）

著者名(英語)： Rion Kawata (Chiba Institute of Technology),Shin-ichiro Hayashi (Chiba Institute of Technology),Keiji Wada (Tokyo Metropolitan University)

キーワード：状態監視,ゲート酸化膜,長期信頼性,パワーデバイス,Condition monitoring,Gate oxide,Long-term reliability,Power devices

要約(日本語)：

原稿種別：日本語

PDFファイルサイズ：318Kバイト