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半導体ひずみゲージ搭載型マイクロマニピュレータを用いた細胞変形性能計測

半導体ひずみゲージ搭載型マイクロマニピュレータを用いた細胞変形性能計測

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カテゴリ: 部門大会

論文No: 19pm5-PS3-68

グループ名: 【E】第36回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム

発行日: 2019/11/12

タイトル(英語): Measurement of cell deformability utilizing 3D micromanipulator

著者名: 洞出 光洋(防衛大学校), 田畑 修(京都先端科学大学)

要約(日本語): 細胞の変形性能計測技術は,細胞自身の持つ物理的特性の理解,あるいは細胞の硬さと疾病との高い相関性から診断応用にも期待できるため,理学や医学分野で要求されている.3次元的に対象物を把持できるマイクロマニピュレータのエンドエフェクタとして,?Nオーダーの反力が計測できる半導体ひずみゲージを搭載したデバイスを開発した.本研究課題では,植物の側根に対して負荷試験を実施し,硬さ計測を行った.

要約(英語): This paper reports the development of a fingertip device of micromanipulator which can grasp a cell, and directly measure the reactive force of a cell during grasping. In order to measure the reaction force of the cell in the culture solution during grasping, a semiconductor strain gauge with a high gauge factor for measuring small strain was embed into the fingertip device.

PDFファイルサイズ: 718 Kバイト

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